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Microscopio FTIR IRT-5000

La serie IRT-5000 de microscopios FTIR proporciona nuevas funciones que mejoran drásticamente el análisis microespectroscópico infrarrojo. El microscopio IRT-5000 se utiliza con los espectrómetros de la serie FT/IR-4000 o FT/IR-6000, combinando la medición micro y macro FTIR, ofreciendo los sistemas de imagen y microscopía más avanzados. Los sistemas se utilizan normalmente en el IR medio para la identificación de materiales y el análisis forense o en el IR cercano y lejano para investigaciones más fundamentales.

El microscopio FTIR IRT-5000 incluye un carrusel automático con una selección de cassegrains y elementos refractivos para observación y medición. Se incluye un detector MCT de banda media (con opción para un detector DLaTGS enfriado por Peltier de alta sensibilidad). Se pueden instalar hasta dos detectores para ampliar el rango espectral del microscopio. La exclusiva función de mapeo IQ se puede utilizar para el mapeo de transmisión/reflectancia o ATR sin necesidad de mover la plataforma de muestra. Se puede usar una etapa de muestreo XYZ automática opcional con enfoque automático para análisis de muestreo o mapeo de un área de muestreo más grande. La adición de un detector MCT de matriz lineal proporciona mapeo e imágenes de muy alta velocidad, especialmente útiles para experimentos dinámicos.

Características del sistema:

  • Mapeo de IQ sin mover la etapa de muestra.
  • Paquete Spectra Manager™
  • KnowItAll® Informática y búsqueda en bibliotecas.
  • Purga (estándar) Vacío total (opción).
  • Rapid Scan opcional con software de análisis de intervalos.
  • Etapa manual o automática con control de temperatura (crio enfriamiento y calentamiento).
  • Capacidad de detector doble y detectores intercambiables por el usuario.
  • Carrusel con capacidad de objetivo múltiple y cambio automático.
  • Claridad de observación visual excepcional.
  • IQ Monitoring para la observación simultánea del espectro y la imagen de muestra.
  • Vista previa del espectro para verificar las condiciones antes de la medición.
  • El archivo de datos incluye imagen de muestra e información de apertura.

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